






1. 铝合金试块(A型对比试块)
铝合金试块由同一试块剖开后具有相同大小的两部分组成,并打上相同的序号,分别标以A、B记号,A、B试块上均应具有细密相对称的裂纹图形。铝合金试块的其他要求应符合JB/T 9213的相关规定。
2. 镀铬试块(B型试块)。
将一块尺寸为130mm×40mm×4mm、材料为0Cr18Ni9Ti或其他不锈钢材料的试块上单面镀铬,用布氏硬度法在其背面施加不同负荷形成3个辐射状裂纹区,按大小顺序排列区位号分别为1、2、3, 其位置、间隔、及其他要求应符合JB/T 6064—1992中B型试块相关规定。裂纹尺寸分别对应JB/T 6064—1992 B型试块上的裂纹区位号2、3、4。

无损检测标准试块的常见类型
根据不同的检测技术,无损检测标准试块有以下常见类型:
1. 超声波试块:用于超声波检测,可模拟不同材料和缺陷类型,评估材料的力学性能和内部结构。
2. 射线试块:用于射线检测,能够模拟不同厚度、材质和缺陷类型的材料,超声试块生产加工,用于评估材料的内部结构和缺陷的形状、大小和位置。
3. 磁粉试块:用于磁粉检测,主要用于检测铁磁性材料的表面和近表面缺陷,如裂纹、气孔等。
4. 涡流试块:用于涡流检测,主要用于检测导电材料的表面和近表面缺陷,如裂纹、夹杂物等。
超声检测试块是一种用来调试的超声检测器。
超声波特点:
1.在空气中不能传播,遇到空气100%反射。
2.超声波在行经介质时,若遇到不同密度或弹性系数物质时,即会产生反射回波的特性,而此种反射回波强度会因材料密度不同而有所差异。
超声波检测原理:
C-SAM检测(超声波检测)即利用此特性来检出材料内部的缺陷并依所接收之讯号变化将之成像。
因此,只要被检测的IC上表面或内部晶片构装材料的界面有离层、空洞、裂缝等缺陷时,即可由C-SAM影像得知缺陷相对位置。

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