集成电路三温测试设备-江苏天一瑞合-集成电路三温测试设备好处





冷热冲击试验箱箱内温度状态由风道中的加热器、蒸发器以及风机的运作状态决定。经过膨胀阀节流流出的制冷剂进入运作室内蒸发器后,吸收运作室内热量并气化,使运作室温度降低;气化后的制冷剂被压缩机吸入并压缩成高温度、高压气体进入冷凝器中被冷凝成液体,再经筛检程式,集成电路三温测试设备,通过膨胀阀节流后,重新又进入运作室内蒸发器中吸热并气化然后再被压缩机吸入压缩。冷热冲击试验箱如此往复回圈运作,使运作室温度降到设置的温度要求




主要功能:三槽式冷热冲击试验机是以待测物品不动之方式来测试因高低温急速变化而对产品是否造成不良的影响.一般用于电子部品、汽车零件及高科技产品等;需要苛刻的环境条件测试及高信耐性需求的检验。满足标准:1、 GB/T2423.1-1989低温试验方法;2、GB/T2423.2-1989高温试验方法;3、GB/T2423.22-1989温度变化试验;4、GJB150.5-86温度冲击试验;5、GJB360.7-87温度冲击试验;6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。适用于航空、ll工、 舰船、电工、电子、仪器仪表;医l疗器械;民用核能;高等院校;科研实验所;商检仲裁、技术监督部门;建材陶瓷;石油化工等产品、整机及零部件的高低温冲击试验。三槽式冷热冲击试验机FR-1226发瑞仪器生产的冷热冲击试验机。





 设备名称

 立式热流仪 (超快速冷热冲击机)

 设备型号

 TYST-400-10

 性能指标

 温度范围

 。-65℃~200℃

 温度控制精度

 ±1.0℃(经校正之后的设备)

 温度解析精度

 0.1℃

 温度波动度

 ≤±0.5℃

 出气流量

 5~18  (2.35L/s~8.49L/s)

 特征温度变化速度

 -55℃~+125℃,约10S

 (出气口空载 )

 +125℃~-55℃,约15S

 温度控制方式

 T型、K型温度传感器,定值监控、程式监控

 功能指标

 操作界面

 10寸触摸屏, 良好的人机交互界面

 通讯方式

 网口、RS485,可远程控制(提供协议和程序)

 数据存储

 U盘存储

 安装指标

 尺寸

 590mm*1045mm*872mm(W*H*D)

 测试罩移动性

 自研支架固定,可升降,可左右移动

 电源

 AC220V 50HZ 单相






 设备名称

 立式热流仪 (超低温超快速冷热冲击机)

 设备型号

 TYST-400-10S

 性能指标

 温度范围

 -80℃~200℃

 温度控制精度

 ±1.0℃(经校正之后的设备)

 温度解析精度

 0.1℃

 温度波动度

 ≤±0.5℃

 出气流量

 5~18 (2.35L/s~8.49L/s)

 特征温度变化速度

 -55℃~+125℃,约10S

 (出气口空载 )

 +125℃~-55℃,集成电路三温测试设备厂家,约15S

 温度控制方式

 T型、K型温度传感器,定值监控、程式监控

 功能指标

 操作界面

 10寸触摸屏, 良好的人机交互界面

 通讯方式

 网口、RS485,集成电路三温测试设备好处,可远程控制(提供协议和程序)

 数据存储

 U盘存储

 安装指标

 尺寸

 590mm*1045mm*872mm(W*H*D)

 测试罩移动性

 自研支架固定,可升降,可左右移动

 电源

 AC220V 50HZ 单相






  



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