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热阻测试仪应用范围:各种三极管、二极管等半导体分立器件,包括:常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。 各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等新型结构 。 各种复杂的散热模组的热特性测试,如热管、风扇等。 半导体器件结温测量。 半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量。 半导体器件封装内部结构分析,包括器件封装内部每层结构(芯片+焊接层+热沉等)的热阻和热容参数。 半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断,漏电点定位厂家,帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构。 材料热特性测量(导热系数和比热容)。 接触热阻测量,包括导热胶、新型热接触材料的导热性能测试。

热阻测试仪加热电流和感应电流通过电子开关切换的方式轮流工作。每加热15秒,测量1次热敏参数,淮安漏电点定位,即获得1个结温值,测量完之后继续加热,加热15秒,再次测量结温值,如此反复工作。在这个过程中,系统将每次测量到的结温值和前面7个结温值进行比较,如果连续8个结温值相同,系统会判定器件达到热平衡,并计算出稳态热阻值。如果用户需要得到热阻热容曲线,只需要将电子开关锁定在测量端即可。此时,因为没有了加热电流,器件开始降温,通过监测器件电压可以得到一条温度下降的曲线,进而通过一系列数学变换得到热阻热容曲线以及瞬态热阻抗曲线。
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