X 射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、、刑侦、考古等诸多部门和领域。X 射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进检和微电路的光刻检验等的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。

使用超大面积25 mm2铍窗SDD检测器(普通Si-pin检测器6mm2)，该款检测器可在相同样品激发条件下获得2-3倍于普通检测器的光谱强度（计数率CPS），从而得到更好的测试稳定性和长期重复性。与传统的Si-pin版本台式仪器相比，EDX8000 Ma谱仪可以全功率运行，EDX-8000MAXSDD贵金属分析仪，因此实现了更为稳定和可靠的测试表现

黄金珠宝首饰检测EDX8000 Max

>仪器参数仪器外观尺寸: 500mm*495mm*390mm样品腔：410mm*330mm*140mm仪器重量: 45 kg

测试方法编辑 播报光谱测金机的测试方法及要求：1.仪器的校核根据仪器的具体要求进行校核。2. 测试条件3 .实验室的环境条件要求应满足相应仪器要求。4.仪器达到稳定状况方可进行测量。5.测试方法6.选取测试点不得少于三点。7. 测量值取各测量结果的平均值。测量进度高：测量误差是±0.1%提供谱线重叠比较工具，便于用户查明未知元素谱峰提供密度法复核软件，可对本机测定结果进行复核。




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