元器件失效分析报价-苏州特斯特-重庆元器件失效分析





Phase 热阻测试仪主要特点
1.提供符合MIL&JEDEC的标准测试环境
2.提供Rja、Rjb、Rjc、热阻参数
3.高可提供200A,4000W电源系统
4.可测试各种封装类型的热阻
5.可测试元器件的稳态及瞬态热阻
6.可对芯片焊接进行筛选评估
三、优点
1.增强瞬态测试能力
2.较高的数据和处理速度
3.单独为改善无障碍改造或修理
4.兼容所有现有的分析技术的夹具
5.紧凑的设计
X射线检测系统在食品安全越来越受到重视的今天,产品品质变得尤为重要,关乎企业的生命和声誉。我们的X射线检测系统被广泛用于产品表面和内部极微小金属和非金属异物检测,同时还可以验证产品完整性,多项质量检查,密封性检验,重量测量,容量填充控制,元器件失效分析公司,脂肪含量分析,残骨及鱼刺扫描等其他扩展应用。帮助企业控制产品质量,提高安全性,避免消费投诉与产品召回,实现高成本效益。

射线照相法(RT)是指用X射线或γ射线穿透试件,重庆元器件失效分析,以胶片作为记录信息的器材的无损检测方法,该方法是基本的,应用的一种非破坏性检验方法。原理:射线能穿透肉眼无法穿透的物质使胶片感光,元器件失效分析报价,当X射线或γ射线照射胶片时,与普通光线一样,电子元器件失效分析,能使胶片乳剂层中的卤化银产生潜影,由于不同密度的物质对射线的吸收系数不同,照射到胶片各处的射线强度也就会产生差异,便可根据暗室处理后的底片各处黑度差来判别缺陷。
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