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 热阻测试仪应用范围:各种三极管、二极管等半导体分立器件,包括:常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。  各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等新型结构 。  各种复杂的散热模组的热特性测试,X-RAY检测价格,如热管、风扇等。  半导体器件结温测量。  半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量。  半导体器件封装内部结构分析,包括器件封装内部每层结构(芯片+焊接层+热沉等)的热阻和热容参数。  半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断,帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构。  材料热特性测量(导热系数和比热容)。  接触热阻测量,包括导热胶、新型热接触材料的导热性能测试。



PHASE12 可以测试 Rja,X-RAY检测仪品牌,Rjc,Rjb Rjl 的热阻(测试原理符合 JEDEC51-1 定义的动态及静态测试

方法)

1) 瞬态阻抗(Thermal Impedance)测试,可以得到从开始加热到结温达到稳定这一过程中的瞬态阻抗

数据。

2) 稳态热阻(Thermal Resistance)各项参数的测试,其包括:Rja,Rjb,无锡X-RAY检测,Rjc,Rjl, 当器件在给一定的工

作电流后。热量不断地向外扩散,达到了热平衡,这时得到的结果是稳态热阻值。在没有达

到热平衡之前测试到的是热阻抗。

3) 可以得到用不同占空比方波测试时的阻抗与热阻值。

4) 内部封装结构与其散热能力的相关性分析(Structure Function)。

5) 装片质量的分析(Die Attachment Quality Evaluation).

6) .多晶片器件的测试。

7.SOA 图表生成

8.浪涌测试








微焦点X射线

   EFPscan平面CT(又称plane CT),是面向PCB板和电子器件的CT检测系统,具有2D/2.5D/3D X-ray功能,可以离线检测和在线全检。 采用了的Computed laminography (CL)扫描模式和算法,具备高速扫描获得清晰断层图像的能力。

扫描速度快

具备可编程的自动识别判断功能

可与产线配合,实现在线检测

PCB板、BGA、CSP、QFP、QFN

功率器件IGBT

开焊、无浸润、气孔、偏移





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