1) PIL(Processer-In-Loops)处理器在环测试，目的是测试自动生成的代码写入控制器后，功能实现上是否与模型有偏差。PIL看似无关紧要，但不做重视也会引起一些不良后果（如调度问题、CPU Load，堆栈溢出等）

2) HIL(Harware-In-Loops)硬件在环测试，测试控制器完整系统功能，phm技术，一般会搭建控制器所在系统的测试台架，使用电气元件模拟传感器（如温度）和执行器（如风扇负载）的电气特性，验证完整的系统功能。

根据整车试验结果，气囊参数进行调整锁定之后，需从新进行DV/PV、子系统的验证。所以一套试验至少要做两轮。越是要求高的主机厂，整车开发周期越长，中间需要大量的验证优化改进。一般车辆的生命周期是5年，很多gao端主机厂在全新车型上市的时候，下一代车型的架构件已经开始定dian 了。架构件是长周期，对整车性能有底层影响的零件。

主机厂要求的零件要在每个关键节点前完成规定的试验。一般从试验类型上来划分，可以分为性能试验、开发试验、可靠性试验和质量一致性试验，有时候，还会做对标零件的性能摸底试验。按照开发的阶段，可以划分为DV试验和PV试验。随着现在CAE技术的不断发展，一部分试验已经可以通过虚拟仿zhen来替代了，部分主机厂也认可供应商通过虚拟仿zhen来替代物理试验以降低开发成本。

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