元器件失效分析-失效分析-特斯特





热阻测试仪加热电流和感应电流通过电子开关切换的方式轮流工作。每加热15秒,测量1次热敏参数,失效分析,即获得1个结温值,测量完之后继续加热,加热15秒,再次测量结温值,失效分析设备,如此反复工作。在这个过程中,元器件失效分析,系统将每次测量到的结温值和前面7个结温值进行比较,如果连续8个结温值相同,系统会判定器件达到热平衡,并计算出稳态热阻值。如果用户需要得到热阻热容曲线,只需要将电子开关锁定在测量端即可。此时,因为没有了加热电流,器件开始降温,通过监测器件电压可以得到一条温度下降的曲线,失效分析仪器,进而通过一系列数学变换得到热阻热容曲线以及瞬态热阻抗曲线。




热阻电性规格:

加热电流测量精度(低电流测量: 0.2, 1 和2 安培测量)

2A 系统: ±1mA 10A 系统: ±5mA 20A 系统: (±10mA)

加热电流测量精度(高电流测量: 2, 10 和20 安培测量):

2A 系统: ±4mA 10A 系统: ±20mA 20A 系统: (±40mA)

加热电压测量精度: ±0.25% ,0~30V

热电偶测量精度(T 型): 典型 ±0.1°C

交流电压:220VAC,10A,50/60Hz

器件的测试的供电电压: 20V(标配),其他的是选配。

器件的测试的供电电流: 30A(标配),选配(100A 200A,400A,800A,1000A及更高电流)

节温的感应电流:1mA, 5mA, 10mA, 20mA, 50mA(标配),100mA,500mA,1000mA,2500mA是选配。

数据采样频率1MHz

结温精度±0.1°C 分辨率:±0.007°C。







Phase 热阻测试仪主要特点

1.提供符合MIL&JEDEC的标准测试环境

2.提供Rja、Rjb、Rjc、热阻参数

3.高可提供200A,4000W电源系统

4.可测试各种封装类型的热阻

5.可测试元器件的稳态及瞬态热阻

6.可对芯片焊接进行筛选评估

三、优点

1.增强瞬态测试能力

2.较高的数据和处理速度

3.单独为改善无障碍改造或修理

4.兼容所有现有的分析技术的夹具

5.紧凑的设计





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