电磁兼容性测试-江苏威阔检测技术服务-绍兴电磁兼容

辐射骚扰场强

设备端口



电场天线



磁场天线




根据麦克斯韦方程,变化电场产生变化磁场,变化磁场产生变化电场。

设备内每个电路都可能是等效磁场天线,机壳和电缆都可能是等效电场天线的一部分。








辐射骚扰测量范围

30MHz~18GHz,测量电场(E)

1GHz以下,开阔场地或半电波暗室,半自由空间。

1GHz以上 全电波暗室,模拟自由空间。

9KHz ~30MHz,测量磁场( H )

EUT较小,放在大磁环天线(LLA)中,测量骚扰磁场的感应电流。

EUT较大,电磁兼容技术,采用远天线法,用单小环在规定距离测量骚扰的磁场强度。

测量场所‐开阔场地



测量场所‐半电波暗室




辐射骚扰测量天线



辐射骚扰测量设备



9kHz‐30MHZ辐射骚扰测量



30‐1000MHz辐射骚扰测量



1‐18GHz辐射骚扰测量



30‐1000MHz辐射骚扰测量







辐射骚扰场强计算

F (天线因子) = E/U

用dB值表示为F(dB) = E(dB) – U(dB)    E(dB) = U(dB) + F(dB)

被测场强E(dB) = 测量接收机读数U(dB) + 天线系数F(dB) + 电缆损耗L(dB)



L2 (dB)= L1 (dB)+ 20lg(d1/d2)

式中L1和 L2分别为测试距离为d1 和d2时的辐射限值

待测物工作状态遵循原则

EUT应按设计要求在额定(标称)工作电压和负载条件(机械性能和电气性能)下 运行。应尽可能使用实际负载;

试验程序应确保ITE(设备或系统)中的各个组成部分能够运行。




电磁兼容术语

电磁兼容性-Electro Magnetic Compatibility (EMC)

设备或系统在其电磁环境中能正常工作且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。

EMI——电磁干扰,电磁骚扰引起的设备、传输通道或系统性能的下降。

EMS——(电磁)敏感性,在存在电磁骚扰的情况下,装置、设备或系统避免性能降低的能力。

系统间干扰(inter-system interference)

其他统产生的电磁骚扰对一个系统产生的电磁干扰。

系统内干扰 (intra -system interference)

系统中出现的由本系统内部产生的电磁骚扰引起的电磁干扰。

抗扰性(immunity)

设备或系统面临电磁骚扰不降低运行性能的能力。(敏感性高,绍兴电磁兼容,抗扰度低,但对一个设备而言,敏感性电平与抗扰度电平是同一个数值)

电磁发射(electromagnetic emission)

从源到外发出电磁能量的现象。

电磁辐射(electromagnetic radiation)

电磁能量以电磁波辐射的形式发射到空间的现象 。

电磁兼容电平(electromagnetic compatibility level)

预期加在工作于指i定条件的装置的装置,电磁兼容性测试,设备或系统上的(规定的)zui大的电磁骚扰电平。



静电放电抗扰度试验

标准依据

IEC 61000 - 4 - 2

EN 61000 - 4 - 2

GB/T 17626.2

试验目的

模拟操作人员或物体在接触设备时放电及人或物体对邻近物体的放电,以考察被试设备抵抗静电放电干扰能力。前者是通过导体直接耦合,电磁兼容单位,属于直接放电影响。 后者是通过空间辐射耦合,属于间接放电影响。

试验设备

静电脉冲发生器




试验等级(严酷度等级)



试验原理



静电放电电流的典型波形



静电放电电流的典型波形参数



台式设备实验室配置图



立式设备实验室配置图




试验环境条件

环境温度:15 ~ 35 ℃

相对湿度:30 ~ 60 %

大气压力:86~106 kPa

试验的实施

接触放电使用尖形放电电极,空气放电使用圆形放电电极;

优先采用接触放电;

直接放电试验,放电电极直接对被试设备进行放电试验。试验对象包括用户在使用中可能触及到的任何地方以及在带电维护和校正时可能触及的地方。如:金属簧i片、机壳、机框、按 键、螺丝、指示灯、开关等;

间接放电试验可对水平耦合板和垂直耦合板进行放电;

试验速率 1 次/s,每个放电点至少在正负极性各放电10 次。

试验结果判定

a. 在试验过程中,设备的工作完全正常 设备的工作完全正常。

b. 在试验中,设备受干扰影响产生了暂时性的功能降低,但撤消干扰后,设备的功能可

以自动恢复正常。

c. 在试验中,设备受干扰影响产生了暂时性的功能降低,但干扰撤消后,设备的功能需

要人工复位后方能恢复。

d. 在试验中,受干扰的设备产生了不可逆转的损伤,包括元器件的损伤 、软件或数据

丢失等。

对于情形a、b,判为合格。

对于情形c、d,判为不合格。



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