⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料

可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如Cr/Fe， Ni/Fe， Ag/Cu，Zn/Fe等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Cu， Ag/Pb/Zn， Ni/Cu/Fe等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe， ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe， 同时分析镍磷含量和镀层厚度

英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。

XRF镀层测厚仪工作原理

镀层测厚仪EDX8000B是将X射线照射在样品上，膜厚仪EDX8000T Plus，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。

吉林膜厚仪EDX8000T Plus-英飞思科学仪器由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。苏州英飞思科学仪器有限公司位于苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前英飞思科学在分析仪器中享有良好的声誉。英飞思科学取得全网商盟认证，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。英飞思科学全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。